输入偏置电流I<Sub>IB</Sub> 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798—1996/4.5 SJ/T 10805-2018/5.5
百检价: 电议
支持报告类型: 电子报告、纸质报告
支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告
报告盖章资质: CMA;CNAS
服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)
服务地区: 全国
检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等
取样方式: 快递邮寄或上门取样
样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定
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检测项目 | 检测标准号 | 检测方法名 | 限制说明 |
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输入偏置电流I<Sub>IB</Sub> | GB/T 6798-1996 | 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798—1996/4.5 SJ/T 10805-2018/5.5 | 能测:输入失调电压V<SUB>IO</SUB>:20mV,输入失调电流I<SUB>IO</SUB>:8μA,输入偏置电流I<SUB>IB</SUB>:8μA,增益40dB~146 dB,输出高电平电压V<SUB>OH</SUB>:0~40V,输出低电平电压V<SUB>OL</SUB>:0~2V,电流0~400mA;不能测:输入失调电压温度系数α<SUB>VIO</SUB>、输入失调电流温度系数α<SUB>IIO</SUB>、输入偏置电流温度系数α<SUB>IIB</SUB>、共模抑制比K<SUB>CMR</SUB>、电源电压抑制比K<SUB>SVR</SUB>、最大共模输入电压V<SUB>ICM</SUB>、最大差模输入电压V<SUB>IDM</SUB>、开环差模输入电阻R<SUB>ID</SUB>、开环单端输出电阻R<SUB>OS</SUB>、低电平选通电流I<SUB>ST(L)</SUB>、高电平选通电流I<SUB>ST(H)</SUB>、响应时间t<SUB>R </SUB>、选通延迟时间t<SUB>ST </SUB>。 |
服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。