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全“0”全“1”功能测试 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 第4.1条

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百检价: 电议

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

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检测项目:

G
全“0”全“1”功能测试
服务详情

检测标准

检测项目 检测标准号 检测方法名 限制说明
全“0”全“1”功能测试 SJ/T 10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 第4.1条 只测 电压: -1V~+6V 电流: -200mA~+200mA 最大1024通道; 电源电流: 0mA~+15A 最高频率: 0Hz~2GHz; 仅适用于特定用户的特定产品

服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


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