功能测试t<Sub>est</Sub> 半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 GB/T 12843-1991 第6条
功能测试t<Sub>est</Sub> 半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 GB/T 12843-1991 第6条
百检价： 电议
支持报告类型： 电子报告、纸质报告
支持报告语言： 中文报告、英文报告、中英文报告
报告盖章资质： CMA；CNAS
服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）
服务地区： 全国
检测用途： 电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等
取样方式： 快递邮寄或上门取样
样品要求： 样品数量及规格等视检测项而定
限企业
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服务详情
检测标准
| 检测项目 | 检测标准号 | 检测方法名 | 限制说明 |
|---|---|---|---|
| 功能测试t<Sub>est</Sub> | GB/T 12843-1991 | 半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 GB/T 12843-1991 第6条 | 只测 电压： -1V～+6V 电流： -200mA～+200mA 最大1024通道； 仅适用于特定用户的特定产品 |
服务简介
服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。
服务流程
合作机构资质
报告样例
平台优势
百检介绍
相关标准
《GB/T 12843-1991》半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 GB/T 12843-1991
《GB/T 12843-1991》半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 GB/T 12843-1991 第6条
《GB/T 12843-1991》半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 GB/T 12843-1991 第6条
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