百检网首页 我的订单 400-101-7153
产品 标准
    :
    银、铜、 铅、 镉 焊料的化学分析方法JIS Z 3910-2008

    银、铜、 铅、 镉 焊料的化学分析方法JIS Z 3910-2008

    银、铜、 铅、 镉 焊料的化学分析方法JIS Z 3910-2008

    百检价： 电议

    支持报告类型： 电子报告、纸质报告

    支持报告语言： 中文报告、英文报告、中英文报告

    报告盖章资质： CMA；CNAS

    服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

    服务地区： 全国

    检测用途： 电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

    取样方式： 快递邮寄或上门取样

    样品要求： 样品数量及规格等视检测项而定

    限企业
    百检网

    扫码咨询立享优惠

    检测项目：

    G
    银、铜、 铅、 镉
    服务详情

    检测标准

    检测项目 检测标准号 检测方法名 限制说明
    银、铜、 铅、 镉 JIS Z 3910 焊料的化学分析方法JIS Z 3910-2008 "只用 14.放电发光分光分析方法“

    服务简介


    服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


    服务流程



    合作机构资质



    报告样例



    平台优势



    百检介绍


    相关标准

    《GB/T10574.7-2003》锡铅焊料化学分析方法 银量的测定
    《GB/T10574.10-2003》锡铅焊料化学分析方法 镉量的测定
    《JIS Z3910-2017》焊锡化学分析法 JIS Z3910-2017
    《GB/T 10574.13-2017》锡铅焊料化学分析方法 铜、铁、镉、银、金、砷、锌、铝、铋、磷量的测定 GB/T 10574.13-2017
    《GB/T10574.6-2003》锡铅焊料化学分析方法 铜量的测定
    《JIS Z 3910-2008》焊料的化学分析方法JIS Z 3910-2008
    《JIS Z 3910-2008 14》焊錫分析方法 JIS Z 3910-2008 14
    《GB/T 10574.13-2017》锡铅焊料化学分析方法 锑、铋、铁、砷、铜、银、锌、铝、镉、和金量的测定 GB/T 10574.13-2017
    《GB/T10574.6-2003》锡铅焊料化学分析方法 铜量的测定
    《SZLH-23-2019》《锡铅焊料化学分析方法铜、铁、镉、银、铋含量的测定火焰原子吸收光谱法》
    热门推荐
    (结栅型, 绝缘栅耗尽型):G-S关断电压V<sub>GS(off)</sub>； (绝缘栅增强型):G-S阈值电压V<sub>GS(th)</sub> 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管 IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 6.3.2

    (结栅型, 绝缘栅耗尽型):G-S关断电压VGS(off)； (绝缘栅增强型):G-S阈值电压VGS(th) 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管 IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 6.3.2

    立即询价

    (结栅型, 绝缘栅耗尽型,绝缘栅增强型):崩溃电压V<sub>(BR)DSS</sub> 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管 IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 6.3.1

    (结栅型, 绝缘栅耗尽型,绝缘栅增强型):崩溃电压V(BR)DSS 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管 IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 6.3.1

    立即询价

    (绝缘栅增强型I<sub>DSS</sub>)或(结栅型,绝缘栅耗尽型):漏极关断电流I<sub>DSX</sub> 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管 IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 6.3.3

    (绝缘栅增强型IDSS)或(结栅型,绝缘栅耗尽型):漏极关断电流IDSX 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管 IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 6.3.3

    立即询价

    静态D-S导通阻抗R<sub>DS(on)</sub>或者D-S导通电压V<sub>DS(on)</sub> 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管 IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 6.3.5

    静态D-S导通阻抗RDS(on)或者D-S导通电压VDS(on) 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管 IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 6.3.5

    立即询价

    制样镜检 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0202

    制样镜检 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0202

    立即询价

    外观检查 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0202

    外观检查 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0202

    立即询价

    全行业甄选实验室
    最快1天出报告
    全程管控、质量保障
    省钱、省时、省力

    关于我们 万检（上海）信息科技有限公司（简称：百检网）是国内知名B2B检测电商服务平台，专注于为第三方 检测机构以及中小微企业及个人用户搭建互联网+检测电商服务平台。平台汇集了国内外权威检测机构（CNAS/CMA）,其中不乏国家级、省级重点实验室以及国际知名检测机构，为广大用户提供一站式检测服务。

    客服热线 400-101-7153 专属服务：156 0190 2607 企业邮箱：Service@Baijiantest.Com 联系地址：上海市徐汇区宜山路700号

    关注百检
    百检网微信公众号

    微信公众号

    百检官方微博

    官方微博

    首页检测能力合作机构检测服务检测标准检测资讯检测新闻检测问答技术知识检测百科产品专题入驻合作关于百检法律申明

    百检集团

    沪ICP备19010749号经营许可证编号:沪B2-20190666Copyright@2019www.baijiantest.comAll Rights Reserved

    • 微信客服
    • 电话咨询
    • QQ客服
    • 百检网 百检网 返回顶部