百检网首页 我的订单 400-101-7153
高温循环擦写后的超高温数据保持能力测试 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-005-REV-D1:2012

高温循环擦写后的超高温数据保持能力测试 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-005-REV-D1:2012

高温循环擦写后的超高温数据保持能力测试 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-005-REV-D1:2012

百检价: 电议

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

限企业
百检网

扫码咨询立享优惠

检测项目:

G
高温循环擦写后的超高温数据保持能力测试
服务详情

检测标准

检测项目 检测标准号 检测方法名 限制说明
高温循环擦写后的超高温数据保持能力测试 AEC-Q 100-005-REV-D1:2012 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-005-REV-D1:2012 只测:PCSTDR,箱体容积:(L×W×H)(600×560×1000)mm,温度: ≤ +150 ± 5℃。

服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



合作机构资质



报告样例



平台优势



百检介绍


相关标准

《AEC-Q100-005-2012》非易失性存储器耐久性,数据保留和操作寿命 AEC-Q100-005-2012
《AEC - Q100-005 - REV-D1 -2012》非易失性存储器程序/擦除持久性,数据保留,和操作寿命测试 AEC - Q100-005 - REV-D1 -2012
《AEC-Q 100-005-2012》非易失存储器程序/擦除耐久性,数据保持和可操作性寿命试验 AEC-Q100-005-2012
《AEC-Q 200 Rev D: 2010》无源(被动)器件的应力测试标准 表5, No 3 高温储存试验 AEC-Q200 Rev D: 2010
《AEC-Q100-005-Rev-D1》非易失性存储器/擦耐久性,数据保留和工作寿命试验 AEC-Q100-005-Rev-D1
《AEC-Q100-005-REV-D1:2012》可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-005-REV-D1:2012 3.4
《AEC-Q100-005-REV-D1:2012》可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-005-REV-D1:2012 3.3
《AEC-Q100-005-REV-D1:2012》可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-005-REV-D1:2012 3.2
《AEC-Q 100-005-REV-D1:2012》可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-005-REV-D1:2012
《AEC-Q100-005-REV-D1:2012》可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-005-REV-D1:2012 3.1
热门推荐
暂无热门推荐