结温 瞬态双接口测试方法-对具有热流道单一路径的半导体器件壳体热阻的测量 JESD51-14:2010
百检价: 电议
支持报告类型: 电子报告、纸质报告
支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告
报告盖章资质: CMA;CNAS
服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)
服务地区: 全国
检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等
取样方式: 快递邮寄或上门取样
样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定
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检测项目 | 检测标准号 | 检测方法名 | 限制说明 |
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结温 | JESD 51-14:2010 | 瞬态双接口测试方法-对具有热流道单一路径的半导体器件壳体热阻的测量 JESD51-14:2010 | 只测: 温度:5℃~140℃; 电压:0~150V; 电流:0~10A; |
服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。