高温高湿保存试验半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 100A

百检价：电议

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

限企业

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检测项目：

服务详情

检测标准

检测项目	检测标准号	检测方法名	限制说明
高温高湿保存试验	JEITA ED- 4701 100A	半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 100A

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《JEITA ED-4701 100A》半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 100A 附录105A
《JEITA ED- 4701 200A》半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 200A
《JEITA ED- 4701 100A》半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 100A
《 JEITA ED- 4701/200A：2013》半导体设备的环境耐受性测试方法（寿命试验II） JEITA ED-4701/200A：2013
《JEITA ED-4701/100A:2013》半导体设备的环境耐受性测试方法（寿命试验I） JEITA ED-4701/100A:2013 附录 102A,103A
《JEITA ED-4701 200A》半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 200A 附录203A
《JEITA ED-4701 200A》半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 200A 附录202A
《JEITA ED-4701 200A》半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 200A 附录201A
《 JEITA ED- 4701/200A :2013》半导体设备的环境耐受性测试方法（寿命试验II） JEITA ED-4701/200A :2013
《 JEITA ED- 4701/100A:2013》半导体设备的环境耐受性测试方法（寿命试验I） JEITA ED-4701/100A:2013

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