检测项目 | 检测标准号 | 检测方法名 | 限制说明 |
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硬度 | GB/T 5593-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料 GB/T 5593-2015 | / |
前言
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准代替GB/T5593—1996《电子元器件结构陶瓷材料》。本标准与GB/T5593—1996相比,主要有下列变化:———表1中作如下修改:对A-95、A-99增加了硬度性能要求;增加了测试A-95、A-99硬度方法的规范性附录A;B-97替代B-95;B-97、B-99两者BeO组分含量均为最低值;“单位与符号”改为“单位”;线膨胀系数单位/℃改为K-1;晶粒大小μ改为μm;A-95的晶粒大小从15μm~30μm改为8μm~20μm;B-9720℃~500℃线膨胀系数7~8改为7.0~8.5;B-97,B-99中平均晶粒大小改为12μm~30μm;B-97中导热系数20℃改为200W/(m·K),100℃改为160W/(m·K);B-99中导热系数20℃改为230W/(m·K),100℃改为180W/(m·K);———5.8抗热震性的测定持续时间从30min改为10min;———表2中作如下修改:部分测试样品尺寸,将氧化铝瓷和氧化铍瓷分别对待;气密性样品厚度从0.25mm±0.02mm改为0.30mm±0.02mm。请注意本文件的某些内容可能涉及专利,本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。本标准由中国电子技术标准化研究院归口。本标准起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所、湖南新化鑫星电子陶瓷有限公司、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司、河南济源兄弟材料有限公司、浙江绍兴富尔全瓷业有限公司、浙江温岭特种陶瓷厂。本标准主要起草人:高陇桥、曹培福、高永泉、黄国立、王立夫、徐正平、李晓英。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:———GB5593—1985、GB/T5593—1996。服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。
被引用标准
引用标准