IEC 60747-8-3-1995 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第3节:外壳额定开关场效应晶体管空白详细规范

标准号：IEC 60747-8-3-1995
中文标准名称：半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第3节:外壳额定开关场效应晶体管空白详细规范
英文标准名称：Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors - Section 3: Blank detail specification for case-rated field-effect transistors for switching applications
标准类型：L40;L56
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L40;L56
国际标准分类号：31.240
适用范围：The object of the quality assessment system for electronic components is to define quality assessment procedures in such a manner that electronic components released by one participating country as conforming with the requirements of an applicable specif