作者:荀彧 时间:2022-08-31 来源:互联网
引张线法是利用两固定基准点之间拉紧的不锈钢丝作为基准线(悬链线的水平投影),测量建筑物在外界荷载作用下各测点垂直偏离于基准线的距离即得水平位移的方法。引张线由端点、测点、钢丝及测线保护管组成,一般设置在混凝土坝或砌体坝不同高程的廊道内,土石坝则设置在坡面,其端点位置通常装设在建筑物以外固定不变的地基上,也可紧靠坝体或直接设置在坝体上。引张线装置一般设在水工大坝的观测廊道内,由端点、观测点、测线(不锈钢丝)和测线保护管组成。为解决引张线垂曲过大的问题,在其间常设置若干浮托装置。测点上的偏离值可采用读数显微镜读取标尺上的分划或通过位移传感器自动测定。假设端点是固定不动的,而各观测点上的标尺或传感器是与坝体相连的,则偏离值的变化就代表该点所代表坝段的位移值。引张线法不受大气旁折光影响,一次观测中的误差可高达0.03mm。
测线及其保护管
测线一般采用直径为 0.6~1.2mm的铟钢丝,在两端重锤作用下引张为一直线。保护管保护测线不受损坏, 同时起防风作用。 保护管可用直径大于 10cm 的塑料管,以保证测线在管内有足够的活动空间。
测读方法
早期安装在大坝上的引张线仪,采用直接设置在测点上的读数尺,由人工测读尺,由人工测读水平位移。随着自动化技术的发展,已将引张线与自动化测读仪表做成一体化的观测系统, 如步进电机光电跟踪式引张线仪、 电容感应式引张线仪以及光机式引张线仪。 这些仪器的工作原理与同原理的垂线坐标仪相仿。
(1)读数显微镜法:利用刻有微分划线的读数显微镜进行的, 测微分划线*小刻划为0.1mm,可估读到 0.01mm。如图 5 所示。
(2)反向光学对点器法:反向光学对点器可以用来测定相对于引张线的偏离值。 一般需要专门设计制造, 也可以利用一个望远镜加上五角棱镜后改造而成。 为了测量光学对中器中心轴偏离引张线的距离, 把望远镜及五角棱镜装在滑块上,滑块在轨道上移动,其移动量用一只百分表测量。轨道固定在坝体上与测线垂直。如图 6 所示。
(3)引张线坐标仪。
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