作者:百小检 时间:2022-09-23 来源:互联网
新的EN 61326-1:2013版本的标准取代EN 61326-1:2006,并于2015年8月14日成为强制性的,EN 61326-1:2013相当于国际标准IEC 61326-1:2012.请进一步阅读EN 61326-1的重大更改摘要。
EN 61326-1:2013性能标准:
性能标准A和B中定义的**部分在EN 61326-1中保持不变.然而,2013年版本增加了一个与“可允许的性能损失”相关的部分。如果制造商没有确定*低性能水平或允许的性能损失,用户可以从设备或产品文档的合理期望中推断出这些损失。换句话说,一个产品的功能仍然可以通过2006年版本中指定的用户干预来恢复--这个版本只是有额外的语句来澄清。
EN 61326-1:2013排放量:
2006年版本引用CISPR 11:2003,2013年版本引用CISPR 11:2009+A1:2010。对CISPR 11:2009的**项修正规定了“小型设备”3米测试距离的替代辐射排放限制,其中“小型设备”被定义为适合于地面以上1.5米、直径1.2米的圆柱形测试体积的设备。
基本环境中的免疫
静电放电试验水平从61636——2006年的±4kV接触放电和±4kV空气放电提高到61326——2013年的±4kV接触放电和±8kV空气放电。这一变化是为了使标准更接近于非实验室环境。
对于磁敏设备,en 61326-1:2013增加了对工频磁抗扰度的新要求(iec 61000-4-8),测试级别为3A/m。受影响的设备类型包括霍尔效应传感器和磁继电器。
工业环境豁免
现在,2013年版本中的每一个项目都有明确2006年标准的业绩标准。没有进行任何其他修改,使本节基本上保持不变。
受控电磁环境的免疫力
EN 61326:2006有一个名为“测量I/O”的端口类别,允许制造商定义测试级别(即没有强制测试级别),并在产品文档中说明EUT测试的级别。在EN 61326:2013中,此端口类别已被删除。因此,以前属于“测量I/O”类别的端口现在属于其余的“I/O信号/控制”类别,即所需的测试级别由标准确定,而不是由制造商自行决定。
便携式测试设备的抗干扰性
对于磁敏设备,en 61326-1:2013增加了一项新的要求,要求电源频率抗磁能力(iec 61000-4-8)在3A/m的测试水平上。它还允许crt显示干扰大于1A/m。
这如何影响现有和新的测试程序
我们一直在测试这一*新标准,所有报告都将发布给EN 61326-1:2013版本的标准。
希望将产品更新到2013年版本的客户可以根据需要进行适用的测试。一旦满足了额外的测试要求,报告就可以重新发布,以反映2013年版本。
尽管在EN 61326-2:2013中增加了新的磁抗扰性要求,但在大多数情况下,磁抗扰性测试仍然不需要,因为只需要对含有固有受磁场影响的元件的设备进行测试。
EN 61326-2006年对2013年
EN 61326-1:2013年包括了一些制造商不应忽视的关键变化。它还澄清了2006年版本中提到的许多标准。制造商目前应该对EN 61326-1:2013版本的标准进行测试。使用2006年的指南现在被认为是不符合规定的,产品必须遵守EN 61326-1才能运往欧洲。
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