GB/T 4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法现行

作者：百检网时间：2021-05-26

标准号：GB/T 4377-2018
中文标准名称：半导体集成电路电压调整器测试方法
英文标准名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators
标准状态：现行,发布于2018-03-15; 实施于2018-08-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
中国标准分类号：31.200
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：圣邦微电子（北京）股份有限公司;成都振芯科技股份有限公司;中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所;北京宇翔电子有限公司
全部替代标准：GB/T 4377-1996
相近标准：20154236-T-339 半导体集成电路电压调整器测试方法; 半导体集成电路电压调整器测试方法; GB/T 4376-1994 半导体集成电路电压调整器系列和品种; GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理; 20192064-T-339 半导体集成电路霍尔电路测试方法; 半导体集成电路霍尔电路测试方法; SJ/T 10805-2018 半导体集成电路电压比较器测试方法; GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法; 20182282-T-339 半导体集成电路 AC/DC测试方法; 半导体集成电路 AC/DC测试方法

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