GB/T 33657-2017 纳米技术晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范现行

作者：百检网时间：2021-05-26

标准号：GB/T 33657-2017
中文标准名称：纳米技术晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
英文标准名称：Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells
标准状态：现行,发布于2017-05-12; 实施于2017-12-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2017-05-12
实施日期：2017-12-01
中国标准分类号：31.200
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会
执行单位：全国纳米技术标准化技术委员会
主管部门：中国科学院
起草单位：中国科学院上海微系统与信息技术研究所
相近标准：20120937-T-491 纳米技术晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范; GB/T 33715-2017 纳米技术纳米技术职业场所健康和安全指南; 纳米技术医疗保健领域纳米技术词汇框架; 20110023-T-491 纳米技术纳米技术职业场所健康和安全指南; 20193987-T-491 纳米技术术语纳米酶; 纳米技术术语纳米酶; GB/T 37156-2018 纳米技术材料规范纳米物体特性指南; 20130918-T-491 纳米技术材料规范纳米物体特性指南; 20193985-T-491 纳米技术术语第12部分纳米技术中的量子现象; 纳米技术术语第12部分纳米技术中的量子现象

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