标准号:GB/T 29505-2013
中文标准名称:硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
英文标准名称:Test method for measuring surface roughness on planar surfaces of silicon wafer
标准状态:现行,发布于2013-05-09; 实施于2014-02-01; 废止
标准类型:国家标准
标准性质:推荐性
发布日期:2013-05-09
实施日期:2014-02-01
中国标准分类号:29.045
国际标准分类号:29.045
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
起草单位:有研半导体材料股份有限公司;中国有色金属工业标准计量质量研究所
相近标准:20080031-T-469 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法; GB/T 2523-1990 冷轧薄钢板(带)表面粗糙度测量方法; GB/T 7220-1987 表面粗糙度 术语 参数测量; 20020847-T-604 表面粗糙度术语 参数测量; GB/T 32642-2016 平板显示器基板玻璃表面粗糙度的测量方法; 20068062-T-469 平板显示器基板玻璃表面粗糙度的测量方法; 20061728-T-605 冷轧金属薄板(带)表面粗糙度和峰值数的测量方法; GB/T 2523-2008 冷轧金属薄板(带)表面粗糙度和峰值数的测量方法; GB/T 15056-2017 铸造表面粗糙度 评定方法; GB/T 15056-1994 铸造表面粗糙度 评定方法
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