GB/T 22572-2008 表面化学分析二次离子质谱用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法现行

作者：百检网时间：2021-05-26

标准号：GB/T 22572-2008
中文标准名称：表面化学分析二次离子质谱用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
英文标准名称：Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
标准状态：现行,发布于2008-12-11; 实施于2009-10-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2008-12-11
实施日期：2009-10-01
中国标准分类号：71.040.40
国际标准分类号：71.040.40
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
执行单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：信息产业部专用材料质量监督检验中心
采标情况：本标准等同采用ISO国际标准：ISO 20341:2003。
采标中文名称:表面化学分析二次离子质谱用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法。
相近标准：20071058-T-469 表面化学分析二次离子质谱用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法; GB/T 25186-2010 表面化学分析二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子; 20075695-T-469 表面化学分析二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子; 20193156-T-469 表面化学分析二次离子质谱硅中硼深度剖析方法; 表面化学分析二次离子质谱硅中硼深度剖析方法; GB/T 20175-2006 表面化学分析溅射深度剖析用层状膜系为参考物质的优化方法; 20020617-T-469 表面化学分析溅射深度剖析用层状膜系为参考物质的优化方法; GB/T 32495-2016 表面化学分析二次离子质谱硅中砷的深度剖析方法; 20121404-T-469 表面化学分析二次离子质谱硅中砷的深度剖析方法; GB/T 29557-2013 表面化学分析深度剖析溅射深度测量

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