标准号:GB/T 17473.2-2008
中文标准名称:微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
英文标准名称:Test methods of presious metals pastes used for microelectronics - Determination of fineness
标准状态:现行,发布于2008-03-31; 实施于2008-09-01; 废止
标准类型:国家标准
标准性质:推荐性
发布日期:2008-03-31
实施日期:2008-09-01
中国标准分类号:77.120.99
国际标准分类号:77.120.99
归口单位:全国有色金属标准化技术委员会
执行单位:全国有色金属标准化技术委员会
主管部门:中国有色金属工业协会
起草单位:贵研铂业股份有限公司
全部替代标准:GB/T 17473.2-1998
相近标准:20064722-T-610 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定; GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定; 20062654-T-610 微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定; 20062656-T-610 微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定; GB/T 17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定; GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定; GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定; GB/T 17473.5-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定; GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定; GB/T 17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
相关标准
《GB/T31034-20146.12》晶体硅太阳电池组件用绝缘背板
《GB/T31034-20146.6》晶体硅太阳电池组件用绝缘背板
《GB/T31034-20146.22》晶体硅太阳电池组件用绝缘背板
《GB/T32199-2015》红外光谱定性分析技术通则
《GB/T31034-20146.21》晶体硅太阳电池组件用绝缘背板
《EN12975-2:20065.4》集热太阳能系统和元件 太阳能收集器 第 2 部分:试验方法
《GB/T31034-20146.18》晶体硅太阳电池组件用绝缘背板
《GB/T31034-20146.15》晶体硅太阳电池组件用绝缘背板
《GB/T31034-20146.4》晶体硅太阳电池组件用绝缘背板
《GB/T31034-20146.17》晶体硅太阳电池组件用绝缘背板
百检网专注于为第三方检测机构以及中小微企业搭建互联网+检测电商服务平台,是一个创新模式的检验检测服务网站。百检网致力于为企业提供便捷、高效的检测服务,简化检测流程,提升检测服务效率,利用互联网+检测电商,为客户提供多样化选择,从根本上降低检测成本提升时间效率,打破行业壁垒,打造出行业创新的检测平台。
百检能给您带来哪些改变?
1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;
2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;
3、工程师一对一服务,让检测更精准;
4、免费初检,初检不收取检测费用;
5、自助下单 快递免费上门取样;
6、周期短,费用低,服务周到;
7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;
8、检测报告权威有效、中国通用;