标准号:GB/T 17473.4-2008
中文标准名称:微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
英文标准名称:Test methods of precious metals pastes used for microelectronics - Determination of adhesion
标准状态:现行,发布于2008-03-31; 实施于2008-09-01; 废止
标准类型:国家标准
标准性质:推荐性
发布日期:2008-03-31
实施日期:2008-09-01
中国标准分类号:77.120.99
国际标准分类号:77.120.99
归口单位:全国有色金属标准化技术委员会
执行单位:全国有色金属标准化技术委员会
主管部门:中国有色金属工业协会
起草单位:贵研铂业股份有限公司
全部替代标准:GB/T 17473.4-1998
相近标准:20062655-T-610 微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定; GB/T 17473.4-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定; 20062654-T-610 微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定; 20064722-T-610 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定; 20062656-T-610 微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定; GB/T 17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定; GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定; GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定; GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定; GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
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