GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路) 现行

标准号：GB/T 19403.1-2003
中文标准名称：半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
英文标准名称：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
标准状态：现行,发布于2003-11-24; 实施于2004-08-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2003-11-24
实施日期：2004-08-01
中国标准分类号：31.200
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：信息产业部第四研究所
采标情况：本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60748-11-1:1992。
采标中文名称:。
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