IEC/TS 61967-3-2014 集成电路.电磁辐射的测量.第3部分:放射形辐射测量.表面扫描法
作者：百检网 时间：2021-07-14
中文标准名称：集成电路.电磁辐射的测量.第3部分:放射形辐射测量.表面扫描法
英文标准名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method
标准类型：L56
发布日期：2014/8/1 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：31.200
引用标准：IEC 60050-55-1970;IEC 60050-101-1998;IEC 60050-102-2007;IEC 60050-103-2009;IEC 60050-111-1996;IEC 60050-111 AMD 1-2005;IEC 60050-112-2010;IEC 60050-113-2011;IEC 60050-113 Corrigendum 1-2011;IEC 60050-114-2014;IEC 60050-121-1998;IEC 60050-121 AMD 1-2002;IE
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