标准号:20204845-T-339
中文标准名称:嵌入式基板测试方法
英文标准名称:Device embedded substrate Test methods
标准状态:正在起草
标准类型:国标计划
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
国际标准分类号:31.180
归口单位:全国印制电路标准化技术委员会
主管部门:工业和信息化部(电子)
起草单位:中国电子科技集团公司第十五研究所和中国电子技术标准化研究院
相近标准: 嵌入式基板测试方法;20080488-T-469 嵌入式软件可靠性测试方法;GB/T 28171-2011 嵌入式软件可
标准制修订:制订
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