标准号:GB/T 4589.1-2006
中文标准名称:半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
英文标准名称:Semiconductor devices. Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
标准类型:L40
发布日期:2006/10/10 12:00:00
实施日期:2007/2/1 12:00:00
中国标准分类号:L40
国际标准分类号:31.080.01
适用范围: 本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系(IECQ)的一部分。 本规范是半导体器件(分立器件和集成电路,包括多片集成电路,但不包括混合电路)的总规范。 本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序,并给出了下述方面的总原则: ——电特性测试方法; ——气候和机械试验; ——耐久性试验。
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