百检网首页 我的订单 400-101-7153

BS EN 60747-16-10-2004 半导体器件.单片微波集成电路的技术验收程序(TAS)

作者:百检网 时间:2021-07-20

标准号:BS EN 60747-16-10-2004
中文标准名称:半导体器件.单片微波集成电路的技术验收程序(TAS)
英文标准名称:Semiconductor devices - Technology Approval Schedule (TAS) for monolithic microwave integrated circuits
标准类型:L56
发布日期:2004/11/9 12:00:00
实施日期:2004/11/9 12:00:00
中国标准分类号:L56
国际标准分类号:31.200
适用范围:This TAS specifies the terms, definitions, symbols, quality system, test, assessment and verification methods and other requirements relevant to the design, manufacture and supply of monolithic microwave integrated circuits in compliance with the general requirements of the IECQ-CECC System for electronic components of assessed quality.

相关标准

《SJ/T11281-2017Cl.3》发光二极管(LED)显示屏测试方法
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.1》半导体器件–分立器件–第5-5部分:光电子器件–光电耦合器
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.1》半导体器件–分立器件–第5-5部分:光电子器件–光电耦合器
《SJ/T11141-2017Cl.6》发光二极管(LED)显示屏通用规范
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.1》半导体器件–分立器件–第5-5部分:光电子器件–光电耦合器
《SJ/T11141-2017Cl.5》发光二极管(LED)显示屏通用规范
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.2》半导体器件–分立器件–第5-5部分:光电子器件–光电耦合器
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.1》半导体器件–分立器件–第5-5部分:光电子器件–光电耦合器
《SJ/T11281-2017Cl.5》发光二极管(LED)显示屏测试方法
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.1》半导体器件–分立器件–第5-5部分:光电子器件–光电耦合器
百检网专注于为第三方检测机构以及中小微企业搭建互联网+检测电商服务平台,是一个创新模式的检验检测服务网站。百检网致力于为企业提供便捷、高效的检测服务,简化检测流程,提升检测服务效率,利用互联网+检测电商,为客户提供多样化选择,从根本上降低检测成本提升时间效率,打破行业壁垒,打造出行业创新的检测平台。

百检能给您带来哪些改变?

1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;

2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;

3、工程师一对一服务,让检测更精准;

4、免费初检,初检不收取检测费用;

5、自助下单 快递免费上门取样;

6、周期短,费用低,服务周到;

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;

8、检测报告权威有效、中国通用;

客户案例展示

  • 上海朗波王服饰有限公司
  • 浙江圣达生物药业股份有限公司
  • 天津市长庆电子科技有限公司
  • 桑德斯微电子器件(南京)有限公司
  • 上海嘉叠贸易有限公司
  • 上海纽特丝纺织品有限公司
  • 无锡露米娅纺织有限公司
  • 东方电气风电(凉山)有限公司
  • 宁波图米文具用品有限公司
  • 江苏力之创特种装备制造有限公司

相关资讯

暂无相关资讯
百检网