标准号:20073440-T-610
中文标准名称:工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量
英文标准名称:Methods for chemical analysis of silicon metal - Part 4:Determination of elements content Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
标准状态:已发布
标准类型:国标计划
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:中国有色金属工业标准计量质量研究所等
国际标准分类号:77.120.10
归口单位:全国有色金属标准化技术委员会
主管部门:中国有色金属工业协会
起草单位:中国铝业股份有限公司郑州研究院
起草人:李跃平
相近标准:GB/T 14849.4-2008 工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量;2012195
标准制修订:制订
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