20051273-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST） 已发布
作者：百检网 时间：2021-08-06
中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
标准状态：已发布
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：崔波
国际标准分类号：31.080.01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人：李丽霞
相近标准：GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）;GB/T 49
标准制修订：制订
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