标准号:GB/T 19403.1-2003
中文标准名称:半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
英文标准名称:Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
标准状态:现行
标准类型:国家标准
发布日期:2003/11/24 12:00:00
实施日期:2004/8/1 12:00:00
中国标准分类号:L56
国际标准分类号:31.200
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门:工业和信息化部(电子)
起草单位:信息产业部第四研究所
相近标准:20030158-T-339 半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路);GB/T 1275
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