标准号:GB/T 11685-2003
中文标准名称:半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
英文标准名称:Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
标准状态:现行
标准类型:国家标准
发布日期:2003/7/7 12:00:00
实施日期:2004/1/1 12:00:00
中国标准分类号:F80
国际标准分类号:27.120.01
归口单位:全国核仪器仪表标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
起草单位:核工业标准化研究所
相近标准:GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则;20030762-T-469 半导体探测器X射线能谱仪通则;2
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