标准号:60749-23 AMD 1-2011
中文标准名称:60749-23 AMD 1-2011 AMENDEMENT 1 Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d'essais mécaniques et climatiques – Partie 23: Durée de vie en fonctionnement à haute température (Edition 1.0)
英文标准名称:AMENDMENT 1 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 23: High temperature operating life (Edition 1.0)
发布日期:2011-01-01
实施日期:2011-04-01
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