作者:百检网 时间:2021-09-15 来源:互联网
HAST是一种试验手法也是设备名称,用提高环境应力(如温度、湿度、压力)的方式,加速产品老化,缩短测试周期,用来评定PCB压合和绝缘电阻,与相关材料的吸湿效果状况,以评估固态组件的可靠性。
电路板等。
BS EN 60749-4-2002半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验(HAST) 部分替代BS EN 60749:1999
2BS EN 60749-24-2004半导体器件.机械和气候试验方法.加速耐湿性.无偏差HAST
3DIN EN 60749-4-2003半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:湿热、稳态、高加速度作用(HAST)
4DIN EN 60749-24-2004半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:强化抗湿 无偏高速应力试验HAST
5GB/T 4937.4-2012半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
6IEC 60749-4-2002半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:稳态湿热强加速应力试验(HAST)
7IEC 60749-4-2002/Cor 1-2003勘误表1:半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:稳态湿热强加速应力试验(HAST)
8IEC 60749-24-2004半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速抗潮性 无偏强加速应力试验(HAST)
9JEDEC JESD22-A118A-2011加快防潮性 - 无偏HAST
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