X-射线荧光光谱仪

主要技术指标

分光晶体：LiF200,LiF220,PET,Ge,TAP,计算机全程自动控制，θ-2θ角独立驱动，2θ扫描速度*大1200°/min，连续扫描速度0.1～180°/min，扫描角范围：sc:5～118°(2θ),PC:7～148°(2θ),步进扫描：0.002～1.0°，停止位置重复性小于0.001°.高压供给：SC：500～1000V，FPC：1500～2500V；计数线性：SC：1000kcps;FPC:2000kcps 工作站：硬件：Sun工作站，OS:UNIX(多任务，多窗口），软件：定量分析：FP法，背景FP法，工作曲解法，在线重校正，基本效应校正4种类型回归曲线，定性分析：平滑化、背景校正、自动选峰、定性鉴别，用函数拟合剥离峰，灵敏度自动控制制样方法：玻璃片法和粉末压片法

主要功能/应用范围

分析元素范围：F-U;分析含量范围：微量（ppm)一常量（%）主要用于各种岩矿和建材的分析，如：硅酸盐、硅铝酸盐、碳酸盐、磷灰石、铝土矿、水泥、陶瓷、土壤、烟尘粒的主元素及微量元素的分析。主元素（氧化物形式）：SiO2、TiO2、Al2O3、Fe2O3、MnO、MgO、CaO、Na2O、K2O、P2O5；微量元素：Ba、Co、Cr、Cu、Ga、Nb、Ni、Pb、Rb、Sr、Th、V、Y、Zn、Zr

服务内容

理化检验，冶金分析

服务的典型成果

为企业生产，科技研发服务

对外开放共享规定

内部规定

参考收费标准

企业标准