异物分析，是专门分析产品上的微小嵌入异物或表面污染物、析出物进行之成分的技术。例如对表面嵌入异物、斑点、油状物、喷霜等异常物质进行定性分析，藉此找寻污染源或配方不相容者，是改善产品*常用的分析方法之一。
应用范围
针对产品上的表面污染物、析出物等异常物质，如产品表面的颗粒物、油状物、雾状物、斑点等。
表面异物分析项目
1.有机异物分析
2.无机异物分析
3.未知异物分析
4.产品异常现象比对分析
主要分析方法
| 方法
| 应用范围
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| 红外光谱法 FTIR
| 1.显微FTIR， 仅需10um以上样品即可测试 2.有机物成分分析 （400-4000cm-1）
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| 扫描电子显微镜和能量色散X射线谱法 SEM/EDS
| 1.固体 2.元素分析/元素分布 （B-~U） /形貌观察
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| 俄歇电子能谱分析仪法 AES
| *表面 （0-3nm） 分析设备
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| X射线电子光能谱分析法 XPS
| 1.更精密的元素分析 2.元素价态， 存在形式分析
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| 飞行时间?次离子质谱分析法 TOF-SIMS
| ppm级别表面有机成分分析
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| 动态?次离子质谱分析法 D-SIMS
| ppb级表面及芯部成分分析
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| 气相色谱质谱联用仪分析法 GC-MS
| 1.固体/液体 2.易挥发组分测试
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分析步骤
1、表面观察：主要采用光学显微镜观察（OM）观察异物在表面还是嵌入在基体材料内。
2、异物物质种类判断：主要采用傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）、显微红外（M）判断异物主要是有机物还是无机物。
3、有机物分析手段：可能涉及Py-GCMS、萃取GC-MS、MS等。
4、无机物分析手段（主要是元素分析）：主要采用扫描电镜能谱仪（SEM-EDS）等。
测试仪器
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400-101-7153
15201733840
