GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件
作者：百检网 时间：2022-10-19
标准简介
本标准等同采用国际标准IEC60747-4：2001《半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件》，内容包括：总则，变容二*管、阶跃二*管和快速开关肖特基二*管，混频二*管和检波二*管，雪崩二*管，体效应二*管，双*型晶体管，场效应晶体管，评价和可靠性-特殊要求等内容。英文名称：Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave devices
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
ICS分类：电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2006-10-10
实施日期：2007-02-01
出版日期：2007-02-01
页数：【胶订-大印张】平装16开 页数：74, 字数：144千字
前言
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