GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
作者：百检网 时间：2022-10-19
标准简介
本标准规定了贵金属浆料方阻的测试方法。本标准适用于贵金属烧结型浆料方阻的测定。非贵金属浆料亦可参照使用。英文名称：Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of sheet resistance
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 17473.3-2008代替
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合
发布部门：国家质量技术监督局
发布日期：1998-08-19
实施日期：1999-03-01
作废日期：2008-09-01
出版日期：2004-04-15
页数：平装16开， 页数：7， 字数：7千字
前言
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