1范围
1.1 主题内容
本标准规定了微波放大器电参数的测试方法的基本原理。
1.2 适用范围
本标准适用于低噪声放大器、功率放大器、限幅放大器、可控增益放大器和脉冲放大器的
电参数测试。
2引用文件
SJ 20612-96微波电路参 数文字符号
3定义
3.1 符号
本标准所采用的参数符号符合SJ 20612-96的规定。
4一般要求
4.1测试条件 和环境要求应符合产品详细规范的规定。
4.2测试用仪 器应具有规定的准确度,并经计量检定合格。
4.3测试用仪器的频率范围应满足测试要求。
4.4功率计的量程应满足测试要求。
4.5衰减器的 衰减量应满足测试要求。
4.6若信号源自带衰减器且满足要求,则测试框图中的可变衰减器可以省略。
4.7测试时按测试框图连接测试仪器,并按操作要求进行预热。
4.8测试期间,环境条件应无影响测试结果准确性的机械振动及电磁干扰。
序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 | |
---|---|---|---|---|
1 | 微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1002 | 微波组件 | 插入损失 | |
2 | 微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1003 | 微波组件 | 隔离度 | |
3 | 微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1004 | 微波组件 | 增量衰减 | |
4 | 微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1005 | 微波组件 | 耦合度方向性 | |
5 | 微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1006 | 微波组件 | 幅度及相位均衡性 | |
6 | 微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1007 | 微波组件 | 相移 | |
7 | 微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1008 | 微波组件 | 群时延 | |
8 | 微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1009 | 微波组件 | 时延 | |
9 | 微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1010 | 微波组件 | 品质因数(Q值) |
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