专利名称:一种测试光通道代价的方法
技术领域:
本发明涉及光通讯技术领域,特别是涉及一种测试光通道代价的方法。
背景技术:
光通道代价是信号波形在通道传输期间由于它的失真引起的接收器灵敏度显著 下降。它的表现为系统的BER (比特差错率)曲线朝着更高的输入功率电平偏移。这相当 于正的通道代价。在某些情况下会存在负的通道代价,但可能性小。(负的通道代价表示实 际上通道相关的失真改善了比**眼图要差的发送器眼图。)理想上,BER曲线只会被移动, 但形状的变化也不罕见,并会表示BER基底的上升。因为通道代价随接收器灵敏度改变,它 应在BER为10-12情况测试。测试通道代价的必要性是因为由反射、符号间干扰、模式分配噪声和激光器啁啾 声引起的总劣化,需要用光通道代价来规范。对于低色散系统,*大通道代价允许ldB,对于高色散系统,*大通道代价允许 2dB。现在使用的测试光通道代价的方法基本有两种。
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