检测方法:
剪切速度:芯片剪切过程中应保持恒定速率,并记录剪切速度。剪切速度一般为0.1mm/s-0.8mm/s
剪切力
试验数据应包括芯片剪切力数值和标准要求数值。芯片剪切数值应满足应用条件所要求的*小值。
失效判据-倒装芯片剪切强度(无底填充器件)
使倒装芯片和基板产生分离的*小剪切力应按照计算公式(1)计算,小于其值而发生分离则视为不合格。
*小剪切力=0.05N*凸点数.............................................(1)
当有规定时,应记录造成分离时的剪切力数值,以及分离或分效的主要类别
1)焊点材料或者焊板焊接区(适用时)的失效;
2)芯片或基板的破裂(紧靠在焊点处下面的芯片或基板失掉一部分)
3)金属化层浮起(金属化层或者基板焊接区与芯片或基板分离)
失效判据-倒装芯片剪切强度(底填充器件)
若芯片黏接面积大于4.13mm,应*小承受25N的力或其倍数;若芯片黏接面积大于或者等于0.32mm,但不大于4.13mm,芯片承受的*小应力可通过
1、项目招投标:出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告;
2、上线电商平台入驻:质检报告各大电商平台认可;
3、用作销售报告:出具具有法律效应的检测报告,让消费者更放心;
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6、如需加急、优先处理;
1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;
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