检测范围
绿碳化硅,黑碳化硅,碳化硅微粉,碳化硅砖,碳化硅板,碳化硅半导体,铝基碳化硅,碳化硅球,陶瓷碳化硅等。
检测项目
粒径检测,游离碳检测,含量检测,游离硅检测,折射率检测,三氧化二铁,纯度检测,成分检测等。
检测标准
GB/T 2480-2008普通磨料 碳化硅
GB/T 3045-2017普通磨料 碳化硅化学分析方法
GB/T 16555-2017含碳、碳化硅、氮化物耐火材料化学分析方法
GB/T 30656-2014碳化硅单晶抛光片
GB/T 30866-2014碳化硅单晶片直径测试方法
GB/T 30867-2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 30868-2014碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
GB/T 31351-2014碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法
GB/T 32278-2015碳化硅单晶片平整度测试方法
GB/T 32978-2016碳化硅质高温陶瓷过滤元件
GB/T 37254-2018高纯碳化硅 微量元素的测定
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