电子探针分析

　　电子探针X射线显微分析(简称电子探针显微分析)(Electron Probe Microanalysis，简称EPMA)是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析，它特别适用于分析试样中微小区域的化学成分，因而是研究材料组织结构和元素分布状态的*为有用的分析方法。

检测范围

　　1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析.

　　2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分鉴定.

　　3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测.

　　4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域.

　　5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。

检测标准

　　1GB 4930-156 0190 2607电子探针分析标准样品通用技术条件

　　2GB/T 4930-1993电子探针分析标准样品通用技术条件

　　3GB/T 4930-2008微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则

　　4GB/T 15075-1994电子探针分析仪的检测方法

　　5GB/T 17366-1998矿物岩石的电子探针分析试样的制备方法

　　6GB/T 17506-1998船舶黑色金属腐蚀层的电子探针分析方法

　　7GB/T 17506-2008船舶黑色金属腐蚀层的电子探针分析方法

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电子探针分析流程

　　1、前期咨询

　　2、邮寄电子探针分析样品或上门取样。

　　3、工程师报价

　　4、支付检测费用，开展实验。

　　5、完成实验，出具检测报告。

　　6、邮寄检测报告，售后服务。

百检网平台服务质量承诺

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