晶体硅检测
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可加急，最快1.5个工作日（特殊样品除外）
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样，数量及规格等视检测项而定
电议（检测的标准和检测项目数量不同而价格不同）
急速响应
全程跟踪
品质严保
晶体硅测试范围
太阳电池晶体硅，光伏晶体硅，晶体硅电池，晶体硅光伏组件，芯片晶体硅等。
晶体硅测试项目
电性能测试，勺子寿命测试，氧含量测试，晶体结构测试，热损伤测试，扭矩测试，热阻测试，水煮测试，弯曲强度测试，光衰减测试，漏电测试，电致发光测试等。
检测标准
| 序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 | |
|---|---|---|---|---|
| 1 | 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法 | 晶体硅 | III-V族杂质含量 | |
| 2 | 单晶硅Ⅲ－Ⅴ级杂质的低温FT－IR分析测试方法 SEMI MF1630-1107 | 晶体硅 | III-V族杂质含量 | |
| 3 | 硅片参考面结晶学取向X射线测试方法 | 晶体硅 | 主参考面晶向 | |
| 4 | 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 | 晶体硅 | 位错密度 | |
| 5 | 锗单晶和锗单晶片 | 晶体硅 | 单晶方片边长 | |
| 6 | 锗单晶和锗单晶片 | 晶体硅 | 厚度及总厚度变化 | |
| 7 | 硅单晶抛光片 | 晶体硅 | 参考面位置 | |
| 8 | 酸浸取-电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质 | 晶体硅 | 基体金属杂质含量 | |
| 9 | 高分辨率辉光放电质谱法测量太阳能电池硅材料中痕量元素的方法 SEMI V1-0709 | 晶体硅 | 基体金属杂质含量 |
检测报告作用：
1、项目招投标：出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告；
2、上线电商平台入驻：质检报告各大电商平台认可；
3、用作销售报告：出具具有法律效应的检测报告，让消费者更放心；
4、论文及科研：提供专业的个性化检测需求；
5、司法服务：提供科学、公正、准确的检测数据；
6、工业问题诊断：验证工业生产环节问题排查和修正；
百检检测流程：
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
检测检测特点：
1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；
2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；
3、工程师一对一服务，让检测更精准
4、免费初检，初检不收取检测费用
5、自助下单 快递免费上门取样；
6、周期短，费用低，服务周到；
7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；
8、检测报告权威有效、中国通用；
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