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硒鼓检测

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CMA、CNAS、CAL

样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定

电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)

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服务详情
硒鼓检测

1范围
本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。
本标准适用于静电复印《打印、传真、多功能)设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件。其*新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
JB/T8271静电复印充导体表面缺陷比对版
JB/T 8273静电复印全黑测试版
3测量条件
3.1环境条怦
温度:18℃一28℃.
湿度:40%%RH一60%RH.
空内照度;400 lx~10O0 lx。在特测光导体周围应无阳光直射。3.2测量用样机
与待测*配套的静电复印(打印、传真、多功能》设备,并符合相关产品标准的要求。
4测量方法
4.1目视检查4.1.1适用项目
光导体表面的塌角、伤痕、脱膜、污染、水印、指印、色泽异常、色泽不均匀以及麻点、凹坑、凸起、条道、针孔、气泡等外观质量项目。
4.12测量方法
从包装箱中小心取出特检光导体。两手支撑光导体两端,一边旋转,一边沿轴向左右来回检查光导体表面,反复三次以上,观测存在的缺陷。
注。测量版面在围寿有效复印《打印)栖面童度两端各加5mem.
4.2对比测量
4.2.1 适用项目
用缺陷版来对比检查光导体表面的麻点、凹坑、凸起、条道、针孔、气泡等缺陷。当目视检查中发

检测标准

序号 检测标准 检测对象 检测项目
1 静电复印有机光导鼓 硒鼓 复印品质量
2 静电复印硒鼓 膜层附着力试验方法 硒鼓 膜层牢固度
3 静电复印有机光导鼓 硒鼓 膜层牢固度
4 静电复印有机光导鼓 硒鼓 表面质量
5 静电复印光导体表面缺陷测量方法 硒鼓 表面质量
6 静电复印光导鼓工作环境试验方法 硒鼓 环境试验
7 静电复印光导体膜层厚度 测量方法 硒鼓 厚度
8 静电复印硒鼓 光电性能测量方法 硒鼓 性能
9 静电复印光导体膜层厚度 测量方法 硒鼓 性能

检测报告作用:

1、项目招投标:出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告;

2、上线电商平台入驻:质检报告各大电商平台认可;

3、用作销售报告:出具具有法律效应的检测报告,让消费者更放心;

4、论文及科研:提供专业的个性化检测需求;

5、司法服务:提供科学、公正、准确的检测数据;

6、工业问题诊断:验证工业生产环节问题排查和修正;

百检检测流程:

1、电话沟通、确认需求;

2、推荐方案、确认报价;

3、邮寄样品、安排检测;

4、进度跟踪、结果反馈;

5、出具报告、售后服务;

6、如需加急、优先处理;

检测检测特点:

1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;

2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;

3、工程师一对一服务,让检测更精准

4、免费初检,初检不收取检测费用

5、自助下单 快递免费上门取样;

6、周期短,费用低,服务周到;

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;

8、检测报告权威有效、中国通用;

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