光伏硅片检测
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1范围
本方法规定了用直排四探针法测量硅单品电阻率的方法。本方法适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的*近距离二者均大于探针间距的4倍的硅单晶体电阻率以及测量直径大于探针间距10倍,厚度小于探针间距4倍的硅单品圆片的电阻率。本方法可测定的硅单品电阻率范围为1×10- - cm~3×10"- cm,
2环境要求
环境温度为23 ℃士1℃,相对湿度不大于65%。
3干扰因素
3.1光照可能严重影响观察电阻率,特别是近似本征材料。因此,所有测试应在暗室进行,除非是待测样品对周国的光不敏感。
3.2当仪器放置在高频干拢源附近时,测试回路中会引入虚假电流。因此仪器要有电磁屏蔽。
3.3试样中电场强度不能过大,以避免少数载流子注入。如果使用的电流适当,则用该电流的两倍或一半时,引起电阻率的变化应小于0.5%。
3.4由于电阻率受温度影响,一般测试适用温度为23℃土1 ℃.
3.5对于厚度对测试的影响,仲裁测量要求厚度按本方法的6.3规定测量s一般测量用户可以根据实际需要确定厚度的要求偏差。
3.6由于探针压力对测量结果有影响,测量时应选择合适的探针压力。
3.7仲裁测量时选择探针间距为1.59 mm,非忡裁测量可选择其他探针间距。
检测标准
| 序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 | |
|---|---|---|---|---|
| 1 | 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 光伏硅片 | 氧含量 |
检测报告作用：
1、项目招投标：出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告；
2、上线电商平台入驻：质检报告各大电商平台认可；
3、用作销售报告：出具具有法律效应的检测报告，让消费者更放心；
4、论文及科研：提供专业的个性化检测需求；
5、司法服务：提供科学、公正、准确的检测数据；
6、工业问题诊断：验证工业生产环节问题排查和修正；
百检检测流程：
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
检测检测特点：
1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；
2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；
3、工程师一对一服务，让检测更精准
4、免费初检，初检不收取检测费用
5、自助下单 快递免费上门取样；
6、周期短，费用低，服务周到；
7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；
8、检测报告权威有效、中国通用；
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