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透射电子显微镜

作者:百检网 时间:2021-11-11 来源:互联网

JEM-2100F场发射透射电子显微镜系日本电子株式会社产品,具有透射(TEM)、会聚束衍射(CBED)及纳米束衍射(NBD)等工作模式,并可与能谱仪联机,进行样品成分分析。其主要功能: 1)利用质厚衬度(又称吸收衬度)像,对样品进行一般形貌观察。 2)利用电子衍射、微区电子衍射、会聚束电子衍射等技术对样品进行物相分析,从而确定材料的物相、晶系,甚至空间群。 3)利用高分辨电子显微技术可直接“看”到晶体中原子或原子团在特定方向上的结构投影,确定晶体结构。 4)利用衍衬像和高分辨电子显微像技术,观察晶体中存
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