作者:百检网 时间:2022-05-06
简称石英晶体或晶振,石英晶体是压电晶体的一种,利用石英晶体的压电效应实现频率控制、稳定或选择,所制成的电子元器件包括石英晶体谐振器、石英晶体振荡器和石英晶体滤波器。
根据引线状况可分为直插(有引线)与表面贴装(无引线)两种类型。
主要特征是其原子或分子有规律排列,反映在宏观上是外形的对称性,在电场的作用下,晶体内部产生应力而形变,从而产生机械振动,获得特定的频率。
应力测试前后电气测试
测试数量:573pcs
测试标准:UserSpec.用户规格
测试要求:需在25±5°C进行测试,除了适用的应力测试标准和表2中的附加要求指定之外。
高温存储测试
测试数量:77pcs
测试标准:MIL-STD-202 Method 108
测试要求:不通电,在大额定温度下放置器件1000小时。试验结束后24±4小时内进行测试。
温度循环测试
测试数量:77pcs
测试标准:JES D22 Method JA-104
测试要求:1000个循环(-55°C到+125°C);试验结束后24±4小时内进行测试。 每个温度的停留时间不超过30分钟,转换时间不超过1分钟。
偏高湿度测试
测试数量:77pcs
测试标准:MIL-STD-202 Method103
测试要求:在温度85°C,湿度85%的条件下放置1000小时;施加额定的VDD和1MΩ,并联逆变器,在每个晶体脚和GND之间有2X的晶体CL电容器,试验结束后24±4小时内进行测试。
工作寿命测试
测试数量:77pcs
测试标准:MIL-STD-202Method108
测试要求:(1000h)稳定状态TA=125°,如果85℃的产品,应在其温度下进行。施加额定的VDD和1MΩ,并联逆变器,在每个晶体脚和GND之间有2X的晶体CL电容器; 试验结束后24±4小时内进行测试。
外观
测试数量:573pcs
测试标准:MIL-STD-883 Method 2009
测试要求:检查器件结构,标识和工艺质量,不要求电气测试。
尺寸
测试数量:30pcs
测试标准:JESD22MethodJB-100
测试要求:按适用的器件规格验证物理尺寸。注意:用户和供应商规格,不要求电气测试。
端子强度 (引脚)测试
测试数量:30pcs
测试标准:MIL-STD-202 Method-211
测试要求:只进行引脚和引脚牢固性测试。条件A(2.27g), C (227g)
溶剂抵抗测试
测试数量:5pcs
测试标准:MIL-STD-202 Method 215
测试要求:注意适用于被标识和/或涂层的器件。增加水洗清洗剂-OKEM清洗剂(6%浓度的Oakite清洗剂(表面活性剂及碱的混合物,包括苛性钠、硅酸盐及磷酸盐))或其它相同的溶剂。
机械冲击测试
测试数量:30pcs
测试标准:MIL-STD-202 Method 213
测试要求:条件C
振动测试
测试数量:30pcs
测试标准:MIL-STD-202Method204
测试要求:测试频率从10-2000赫兹,5g/s的力20分钟,三个方向每个方向12个循环。
抗焊接热试验
测试数量:30pcs
测试标准:MIL-STD-202Method210
测试要求:260±5℃,时间10±1s,浸入深度1.27mm
可焊性试验
测试数量:30pcs
测试标准:J-STD-002
测试要求:用于引脚和表面贴装元件,不需要电气测试,放大50倍。 引脚产品方法A @ 235℃ 表面贴装元件 方法B 4小时、155℃ 、干热235℃ 和 方法B215℃
电气特性测试
测试数量:30pcs
测试标准:用户规格书
测试要求:按批次和样品数量要求进行参数试验,总结列出室温下及低,高工作温度下器件的小值,大值,平均值和标准偏差。至少要测量低温度/室温/高温度下的参数CP,DF,IR。见参数表格中的建议。
可燃性试验
测试数量:20pcs
测试标准:UL-94
测试要求:V-0 或 V-1 可接受
板弯曲试验
测试数量:30pcs
测试标准:AEC-Q200-005
测试要求:只适用于MLCC,至少60秒的支撑时间
端子强度(表面贴装元件)测试
测试数量:30pcs
测试标准:AEC-Q200-006
测试要求:标准要求规定
注意:预前应力电气测试也作为电气特性。1000小时试验过程中需要在250和500小时进行间隔测量。
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