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半导体设备保护用熔断体检测

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半导体设备保护用熔断体检测

总则

除IEC 60269-1:2006规定外,补充下列要求。半导体设备保护用熔断体应符合IEC 60269-1:2006所有要求,并且还应符合本部分规定的补充要求。

范围和目的

本部分的补充要求适用于安装在具有半导体装置的设备上的熔断体,该熔断体适用于标称电压不超过交流1000 V或直流1500 V的电路。如适用,还可用于更高的标称电压的电路。

注1:此类熔断体通君称为“半导体熔断体”。

注2r在多数情况下,组合设备的一部分可用作熔断器底座。由于设备的多样性,难以作出一般的规定﹔组合设备

是否适合作熔断器底座,宜由用户与制造厂协商。但是,如果采用独立的熔断器底座或熔断器支持件,他们应符合IEC 60269-1:2006的相关要求。

注3:IEC60269-6专用于太阳能光伏系统的保护。

本部分的目的是确定半导体熔断体的特性,从而在相同尺寸的前提下,可以用具有相同特性的其他型式的熔断体替换半导体熔断体。因此,本部分中特别规定了:

a)熔断体的下列特性:

1)额定值;

2)正常工作时的温升;3)耗散功率﹔

4)时间-电流特性;5)分断能力;

6)截断电流特性和It 特性;7)电弧电压特性。

b)验证熔断体特性的型式试验;)熔断体标志﹔

d应提供的技术数据(见附录BB)。

检测标准

序号 检测标准 检测对象 检测项目
1 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 半导体设备保护用熔断体 分断能力验证
2 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 半导体设备保护用熔断体 温升和耗散功率
3 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 半导体设备保护用熔断体 约定不熔断电流
4 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 半导体设备保护用熔断体 约定熔断电流
5 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 半导体设备保护用熔断体 过载能力验证
6 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 半导体设备保护用熔断体 额定电流验证
7 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 半导体设备保护用熔断体 熔断器支持件的布置

检测报告作用:

1、项目招投标:出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告;

2、上线电商平台入驻:质检报告各大电商平台认可;

3、用作销售报告:出具具有法律效应的检测报告,让消费者更放心;

4、论文及科研:提供专业的个性化检测需求;

5、司法服务:提供科学、公正、准确的检测数据;

6、工业问题诊断:验证工业生产环节问题排查和修正;

百检检测流程:

1、电话沟通、确认需求;

2、推荐方案、确认报价;

3、邮寄样品、安排检测;

4、进度跟踪、结果反馈;

5、出具报告、售后服务;

6、如需加急、优先处理;

检测检测特点:

1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;

2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;

3、工程师一对一服务,让检测更精准

4、免费初检,初检不收取检测费用

5、自助下单 快递免费上门取样;

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8、检测报告权威有效、中国通用;

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