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数字集成电路存储器检测

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数字集成电路存储器检测

半导体存储器是集成电路的主要产品门类之一。它在世界IC市场中占有约30%的份额,其发展带动着整个IC产业的发展。存储器作为各类电子计算机、数据图像等信息处理系统、数字化控制系统、智能电子仪表中的重要记忆元件而得到广泛应用并飞速发展。

半导体集成电路存储器从功能上分为两大类,一类为只读存储器(ReadOnlyMemory,ROM);-类为随机存取存储器(RandomAccessMemory,RAM),简称随机存储器。

从使用角度看,半导体存储器也可以分成两大类:断电后数据会丢失的易失性存储器和断电后数据不会丢失的非易失性存储器。其中易失性存储器又分为动态随机存取存储器(DRAM)和静态随机存取存储器(SRAM)两种。非易失性存储器则分为掩模ROM、EPROM、EEPROM以及快闪存储器(FlashMemory)。

其他类型还包括抗辐照存储器SRAM、同步动态随机存储器SDRAM、FIFO存储器以及铁电存储器(FRAM)等新型存储器。

检测报告作用:

1、项目招投标:出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告;

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检测检测特点:

1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;

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