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时基电路检测

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时基电路检测

本标准规定了半导体集成电路时基电路(以下简称器件或时基电路)电参数测试方法的基本原理。时基电路与CMOS电路相同的静态参数和动态参数测试可参照GB 3834《半导体集成电路CMOs电路测试方法的基本原理》。

总的要求

1.1若无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。1.2测试期间,施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定。

1.3测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。

1.4被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用*限条件。

1.5若有要求时,应按器件详细规范规定的顺序接通电源。

1.6测试期间,被测器件应连接器件详细规范规定的外围电路和补偿网络。

1.7若电参数值是由几步测试的结果经计算而确定时,这些测试的时间间隔应尽可能短。

1.8本标准的参数定义按如下规定的真值表给出﹐如被测器件与本规定不符合时,可对测试电路进行相应的调整。

检测标准

序号 检测标准 检测对象 检测项目
1 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 时基电路 复位电压
2 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 时基电路 复位电流
3 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 时基电路 控制端电压
4 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 时基电路 最高振荡频率
5 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 时基电路 触发电压
6 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 时基电路 触发电流
7 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 时基电路 阈值电压
8 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 时基电路 阈值电流
9 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 时基电路 静态电源电流
10 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 时基电路 复位电压<I>V</I><I><Sub>R</Sub></I>

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