Tecnai G2 F30 S-TWIN透射电子显微镜是一个真正多功能、多用户环境的30OkV场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件，能采集TEM明场、暗场像和高分辨像，能进行选区电子衍射和汇聚束衍射，能进行EDX能潜分析和高分辨STEM原子序数像的分析，STEM结合EDX点线、面扫描的可以进行微区能潜分析。该仪器还配备了相关的制样设备，包括Gantan691离子减薄仪、磁力双喷电解减薄嚣和凹坑仪等，可以进行金届、生物以及高分子材料等样品的透射电子显微镜的制样工作。该仪器可广泛应用于高分子材料、陶瓷、纳米材料、生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体材料等领域的科研，是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的大型精密仪器。
应用范围
形貌分析：通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息，同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进—步的表征。
结构分析：观察研究材料结构并进行纳米尺度的微分析，如:高分辨晶格条纹像，选区电子衍射，会聚束电子衍射等。
成分分析：可对小到几纳米的微区或晶粒的进行成分分析，可选择性的对样品进行能谱点测、能谱线扫、能谱面分布分析，获得样品中的元素在一个点、一条线、一个面上的分布情况。
检测案例
送样要求：
粉末样品:样品量≥2mg(磁性样品必须由承方制样)。
液体样品:样品量≥0.5ml(磁性样品必须由承检方制样)。
块体样品:样品尺寸≥3mm,若小于该尺寸请联系在线客服具体确认。
测试说明
1.形貌像测试我们会提供11张左右照片，形貌加高分辨提供17张左右，能谱点测两处位置，电子衍射1处，能谱面分布/能谱线扫提供一处位置，且面分布不提供元素比例，若需提供，请选择面分布+能谱比例。HAADF暗场像提供4张照片，一般/中心暗场像提供一张图片。
2.不需要形貌像的测试，普通样品加收152 0173 3840元基础上机费用，磁性样品300元基础上机费。
3.对于碳量子点/银簇/铜簇等粒径小于5nm的量子点，如未发现，收取100元基础上机费用。
4.纳米材料制样默认的支持膜为铜材质超薄碳支持膜，支持膜的主要成分为Cu/C/O/H,如做能谱表征需要避开Cu元素的干扰，请注明使用非铜材质的支持膜。
5.零维纳米材料和三维纳米材料(如量子点/纳米颗粒)一般都是使用超薄碳支持膜，一维纳米材料和二维纳米材料(如纳米线/石墨烯)一般使用带孔的微栅支持膜，如果只拍形貌像介意背景上有孔，请注明使用普通支持膜，清晰度可能会不高。
6.选区电子衍射测试对于纳米材料来说晶粒比较小，无法踩正带轴，选择普通电子衍射测试即可;对于块体样品我们可提供踩正带轴的服务，收费为152 0173 3840元/位置，请说明针对哪些物相采正带轴。
7.对于离子减薄制样中的常规韧性材料指Al/Cu/Fe/Co/Ni/Ti等金属;脆性材料指陶瓷材料/粉末烧结的脆性材料/高熵合金/甩带材料/非晶材料等，如NdFeB、Cu-石墨、BaTiO3等;软硬相间的材料指由两种硬度差别比较大的金属组成的合金如WCu合金,TiAl, Ni3Al等;易氧化的材料指Mg Zn Sn等金属及其合金;超硬材料指硬度大于SiC的各种材料，如Al2O3. MgO, SiO2. SiC, Si3N4等。
8.针对离子减薄样品，由于样品本身情况造成的拍摄不成功，制样费和基本上机费(普通样品200元;磁性样品300元)正常收取。(例：金属样品析出相/特定物质分布不均或数量特别少而导致的拍摄不成功)。
9.对于样品的磁性及疏松情况和颗粒之间结合力请仔细确认，如磁性脆性的NdFeB，无压烧结的陶瓷样品等。否则因隐瞒样品信息导致仪器损坏，您将承担全部赔偿责任。
10.检测周期：5个工作日(默认);10个工作日(减薄制样+测试);超薄切片10个工作日。若样品特殊(非常规块体)或数量较多(≥5)，检测周期可能会有所延长，具体可询问客服人员。
11.如因仪器损坏等不可抗力造成检测周期延误的，我们会**时间通知您而无须承担检测周期延误的责任。
12.生物样本请优先选择钨灯丝透射电镜进行测试，如必须打能谱或看高分辨再选择场发射电镜。
400-101-7153
15201733840
