1范围
警售﹔本标准不包括人员防X射线辐射的问题,关于此重要方面的信息,可参考现行的国际和国家
标准及地方法规。
1.1本标准规定了应用X射线光讲方法测量金属覆盖层厚度的方法。
1.2本标准所用的测量方法基本属于测定单位面积质景的一种方法。如果已知覆盖层材料的密度﹐则测量结果也可用覆盖层的线性厚度表示。
1.3本测量方法可同时测馕三层覆盖层体系v或同时测量三层组分的厚度和成分。
1.4给定覆盖层材料的实际测量范围主要取决于被分析的特征X射线荧光的能量以及所允许的测量不确定度,而且因所用仪器设备和操作规程而不同。
2术语和定义
下列术语和定义适用于本标准。2.1
X射线荧光X-ray rluorescence (XRF>
高强度入射X射线撞山置于入射光来路径上的材料时产生的二次额射。注:此二次发射具有该材料的波长和能量特征。
2.2
荧光辐射强度intensity of fluorescent radiation
辐射强度工,由仪器测量的、用每秒计数(辐射脉冲>来表示。2.3
饱和厚度saturation thickness
即为超过时,荧光强度不再产生任何可察觉的变化的厚度。
注。饱和厚度取决于荧光辐射的能盘成坡长.材料的密度和原子序数,人射角度以及材料表面的荧光辐射。
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