检测标准
GB/T 7092半导体集成电路外形尺寸
GB/T 16526封装引线间电容和引线负载电容测试方法GJB 179A-1996计数抽样检验程序及表
GJB 360电子及电气元件试验方法
GJB 546电子元器件质量保证大纲GJB 548微电子器件试验方法和程序GJB 3014电子元器件统计过程控制体系SJ 20129金属镀覆层厚度测量方法SJ 20151 军用电子器件用镍带规范
YB/T 5231-2005定膨胀封接铁镍钴合金
YB/T 5235-2005定膨胀封接铁镍铬、铁镍合金
要求
3.1总则
外壳应符合本规范和相应相关详细规范的所有要求。本规范的要求与相关详细规范不一致时,应以相关详细规范为准。
3.2合格鉴定
承制方按本规范提供的外壳应是鉴定合格的产品。3.3产品保证要求
按本规范供货的外壳应满足本规范规定的各项适用要求,经受并通过本规范和相关详细规范规定的各项适用试验和检验。
3.4质量保证大纲
承制方应按GJB 546的要求建立并维持质量保证大纲。3.5统计过程控制
承制方应按GJB 3014的规定制定统计过程控制计划。该计划至少应包括培训、关键工艺的确定、统计控制技术的建立以及控制作用系统。
3.6工艺检测计划
承制方应制定工艺检测计划。该计划至少应包括关键工艺检测的频次、样品数、拒收判据、允许的返工和失效产品的处置等。
序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 | |
---|---|---|---|---|
1 | 半导体集成电路外壳通用规范 GJB1420B-2011 3.9.2 | 半导体集成电路外壳 | 引线电阻 | |
2 | 半导体集成电路外壳通用规范 GJB1420B-2011 3.9.3 | 半导体集成电路外壳 | 引线间电容 | |
3 | 半导体集成电路外壳通用规范 GJB1420B-2011 3.9.1 | 半导体集成电路外壳 | 绝缘电阻 | |
4 | 半导体集成电路外壳通用规范 GJB1420B-2011 3.7.4 | 半导体集成电路外壳 | 镀层厚度 | |
5 | 半导体集成电路外壳通用规范 GJB 1420A-1999 3.6.2 | 半导体集成电路外壳 | 引线电阻 | |
6 | 半导体集成电路外壳通用规范 GJB 1420A-1999 3.6.3 | 半导体集成电路外壳 | 引线间电容 | |
7 | 半导体集成电路外壳通用规范 GJB 1420A-1999 3.6.1 | 半导体集成电路外壳 | 绝缘电阻 |
1、项目招投标:出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告;
2、上线电商平台入驻:质检报告各大电商平台认可;
3、用作销售报告:出具具有法律效应的检测报告,让消费者更放心;
4、论文及科研:提供专业的个性化检测需求;
5、司法服务:提供科学、公正、准确的检测数据;
6、工业问题诊断:验证工业生产环节问题排查和修正;
1、电话沟通、确认需求;
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6、如需加急、优先处理;
1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;
2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;
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7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;
8、检测报告权威有效、中国通用;