术语和定义
电子元器件electronic components
在电子线路或电子设备中执行电气、电子、电磁、机电和光电功能的基本单元。该基本单元可由多个零件组成,通常不破坏是不能将其分解的。
破坏性物理分析destructive physical analysis(DPA)
为验证元器件的设计、结构、材料和制造质量是否满足预定用途或有关规范的要求,对元器件样品进行解剖,以及解剖前后进行一系列检验和分析的全过程。
生产批production lot
在同一生产线上采用相同的设计、结构、材料、工艺、控制,按相同的产品规范制造出来的--批电子元器件。生产批以电子元器件外壳上标注的生产日期代码或批号来识别。
―缺陷defect
外形、装配、功能或工艺不符合规定的要求即构成缺陷。
当DPA用于批质量评价时,除非另有说明,元器件的缺陷将作为批拒收的依据。3.5批次性缺陷lot related defect
在设计、制造过程造成的、在同一批元器件中重复出现的缺陷。例如:半导体器件由于掩膜造成的钝化层、金属化层缺陷等。可筛选缺陷screenable defect
可用有效的非破坏性检验方法筛选剔除的缺陷。
一般要求
抽样概述
除另有规定外,用于DPA 的样品应从生产批中抽取,并按 DPA的不同用途规定相应的抽样方案。
批质量一致性检验抽样
概述
DPA用于批质量一致性检验时,抽样方案应以产品规范为准。当产品规范未规定时,应按本标准的规定确定抽样方案。
样本大小
样本大小应以满足DPA检验项目的需用量为前提。对于一般元器件,样本大小应为生产批总数的2%,但不少于5只也不多于10只;对于结构复杂的元器件,样本大小应为生产批总数的1%,但不少于2只也不多于5只;对于价格昂贵或批量很少的元器件,样本大小可适当减少,但应经有关机构批准后实施。有关机构包括:鉴定机构、采购机构或元器件使用方等。
序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 | |
---|---|---|---|---|
1 | 军用电子元器件破坏性物理分析 GJB4027A-2006 工作项目0202第2.4条 | 多层瓷介(独石)电容器 | 内部目检(对带引线有包封层的电容器) |
1、项目招投标:出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告;
2、上线电商平台入驻:质检报告各大电商平台认可;
3、用作销售报告:出具具有法律效应的检测报告,让消费者更放心;
4、论文及科研:提供专业的个性化检测需求;
5、司法服务:提供科学、公正、准确的检测数据;
6、工业问题诊断:验证工业生产环节问题排查和修正;
1、电话沟通、确认需求;
2、推荐方案、确认报价;
3、邮寄样品、安排检测;
4、进度跟踪、结果反馈;
5、出具报告、售后服务;
6、如需加急、优先处理;
1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;
2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;
3、工程师一对一服务,让检测更精准
4、免费初检,初检不收取检测费用
5、自助下单 快递免费上门取样;
6、周期短,费用低,服务周到;
7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;
8、检测报告权威有效、中国通用;
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