规范性引用文件
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GB/T 25915.1—2010洁净室及相关受控环境第1部分:空气洁净度等级
方法提要
将试样用硝酸和氢氟酸的混合物溶解﹐加热使溶液蒸干,溶液中的硅以SiF。的形式挥发。然后用硝酸溶液溶解残渣,用超纯水定容后利用电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)测定溶液中待分析金属元素的含量。
干扰因素
实验室的洁净度﹑容器和仪器进样系统的洁净度、试剂和水的纯度以及操作过程等因素直接影响测量结果的准确度,应严格控制。
序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 | |
---|---|---|---|---|
1 | 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法 | 多晶硅 | B,P,Al,Sb,Ga,As | |
2 | 硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法 | 多晶硅 | 代位碳含量 | |
3 | 非本征半导体材料导电类型测试方法 | 多晶硅 | 导电类型 | |
4 | 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 | 多晶硅 | 少子寿命 | |
5 | 硅单晶电阻率测定方法 | 多晶硅 | 电阻率 | |
6 | 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 多晶硅 | 间隙氧含量 | |
7 | 硅多晶气氛区熔基磷检验方法 | 多晶硅 | 区熔基磷测试棒制备 | |
8 | 多晶硅基体金属杂质分析 电感耦合等离子体质谱法 SEMI PV49-0613 | 多晶硅 | 基体金属杂质(钾、钠、钙、镁、铝、铬、铁、镍、铜、锌) | |
9 | 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法 | 多晶硅 | 多晶硅ⅢⅤ族杂质分析 (硼、铝、镓、磷、砷、锑) |
1、项目招投标:出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告;
2、上线电商平台入驻:质检报告各大电商平台认可;
3、用作销售报告:出具具有法律效应的检测报告,让消费者更放心;
4、论文及科研:提供专业的个性化检测需求;
5、司法服务:提供科学、公正、准确的检测数据;
6、工业问题诊断:验证工业生产环节问题排查和修正;
1、电话沟通、确认需求;
2、推荐方案、确认报价;
3、邮寄样品、安排检测;
4、进度跟踪、结果反馈;
5、出具报告、售后服务;
6、如需加急、优先处理;
1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;
2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;
3、工程师一对一服务,让检测更精准
4、免费初检,初检不收取检测费用
5、自助下单 快递免费上门取样;
6、周期短,费用低,服务周到;
7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;
8、检测报告权威有效、中国通用;